A microscopia electrónica de varrimento (SEM) é vastamente utilizada no estudo de amostras orgânicas ou inorgânicas. Através desta análise é possível retirar informação acerca da morfologia, topografia e composição da amostra em profundidade. Assim sendo, é possível obter mapas detalhados acerca da distribuição de diferentes elementos ou mesmo acerca de diferentes fases da mesma amostra.
O SEM consiste na utilização de um feixe de electrões para percorrer a amostra (enquanto a atravessa) para a obtenção de informação. Ao entrar em contacto com a matéria, são emitidos electrões que, quando monitorizados, permitem obter informações acerca da amostra. A imagem é construída ao longo do tempo, à medida que o feixe varre a amostra.
3 comentários:
Não é que eu perceba muito do assunto, mas a imagem não parece ser de um SEM..
Fui confirmar e realmente não era! Bom olho! (agora já está bem..)
Depois não digas que o meu trabalho é parecido com o teu :P
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